Penganalisis berbilang unsur ialah instrumen analisis yang digunakan untuk mengukur secara serentak atau pantas pelbagai komponen unsur dalam sampel. Ia digunakan terutamanya dalam metalurgi, mekanikal, kimia, seramik, penerokaan geologi dan pemantauan alam sekitar. Ia biasanya direka untuk keluli karbon am, keluli aloi, besi tuang, logam bukan ferus, bijih dan lebih daripada 20 unsur lain, sulfur, silikon, mangan, fosforus, kromium, nikel, molibdenum, tembaga, titanium, dsb., untuk memenuhi piawaian kebangsaan yang berkaitan, mempunyai penentukuran pintar dan fungsi pemprosesan data, dan biasanya mempunyai reka bentuk desktop dan mudah alih untuk memenuhi keperluan berbeza pengesanan pantas di makmal dan lapangan.

Ia menggunakan kawalan mikrokomputer jenama, antara muka ialah menu semua-Cina, dan dilengkapi dengan pencetak desktop untuk mengeluarkan keputusan.

Instrumen ini menggunakan komputer dan teknologi mikrokomputer cip tunggal untuk kawalan program dan pemprosesan data, yang digunakan untuk menentukan pecahan jisim pelbagai elemen dalam keluli dan logam bukan ferus. Ia mempunyai operasi automatik dan fungsi penambahan cecair kuantitatif. Jumlah sampel adalah kecil, yang membantu meningkatkan ketepatan analisis. Keputusan pengukuran boleh dipaparkan dan dicetak terus.

Instrumen ini menggunakan teknologi sumber cahaya sejuk dan komponen optoelektronik yang diimport, dan mempunyai fungsi sifar dan penuh untuk penyesuaian sendiri.

Menyokong fungsi penimbangan dalam talian baki elektronik, berat sampel boleh dibaca secara automatik oleh komputer atau dimasukkan secara manual.

Instrumen ini mempunyai tiga saluran utama, setiap saluran utama mengandungi tiga puluh sub-saluran, boleh menyimpan bilangan lengkung kerja yang sepadan, dan bilangan saluran boleh dikembangkan mengikut keperluan.

Dengan menggantikan sumber cahaya sejuk dengan panjang gelombang yang berbeza dan melaraskan potensiometer pratetap, jenis dan julat kandungan elemen ukuran boleh diperluaskan. Sampel larut di luar mesin, mengurangkan injap dan komponen paip dalam proses operasi.

Sesetengah model baharu menggunakan kawalan perisian proses penuh untuk mencapai penalaan sifar automatik, pembetulan sisihan linear dan pemprosesan dan penyimpanan data automatik, dan peranti penalaan sifar mekanikal telah dibatalkan.

Sesetengah model mempunyai saluran pengukuran yang lebih bebas, setiap saluran boleh menyimpan berbilang lengkung kerja, menyokong pengukuran segerak berbilang elemen dan pemprosesan berterusan sampel kelompok.

Instrumen boleh mengesan berpuluh-puluh unsur dalam keluli, logam bukan ferus, bijih, seramik dan bahan lain, dan had bawah pengesanan beberapa elemen boleh mencapai 0.001%. Instrumen ini menggunakan penderia baharu, teknologi mikrokomputer dan reka bentuk anti-gangguan, dan ketepatan pengukuran adalah selaras dengan piawaian kebangsaan yang berkaitan. Instrumen berdasarkan prinsip analisis pendarfluor sinar-X tidak memerlukan atau hanya memerlukan sejumlah kecil reagen kimia, tiada pelepasan tiga sisa, tiada sumber radioaktif, dan penggunaan elektrik yang rendah.